张际亮,孙学鹏,郦剑,沃银花

• 1:浙江大学材料科学与工程系
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摘要(Abstract)：

采用常压化学气相沉积(APCVD)技术在铝基底上成功制备了改性SiO_x陶瓷薄膜。通过显微硬度测试与涂层附着力自动划痕测试定量研究了薄膜显微硬度和膜基结合强度,利用光学显微镜(OM)和扫描电子显微镜(SEM)观察了薄膜的原始表面以及压痕、划痕形貌。结果表明,SiO_x膜层由大小不均匀的等轴状颗粒团聚堆垛而成,退火处理时长大或融合成片状;SiO_x薄膜有效提高纯铝表面的硬度,并能通过SiO_x薄膜变形以松弛表层应力,抑制脆性裂纹产生;划痕测试证明基底和薄膜具有很高的结合强度,薄膜与基底发生塑性变形而不剥离。

关键词(KeyWords)： SiO_x薄膜;Al合金;化学气相沉积;显微硬度;结合强度;表面形貌

Abstract:

Keywords:

基金项目(Foundation): 国家自然科学基金(50271065)

作者(Author): 张际亮,孙学鹏,郦剑,沃银花

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